ȸ»ç¸í : ³ª³ëÈÀÎÅ×Å©(ÁÖ)
ºÐ¾ß : ÀÇ·á, Á¤¹Ð ¹× °úÇбâ±â
ȨÆäÀÌÁöÁÖ¼Ò : www.nanofine.co.kr
ȸ»çÁÖ¼Ò : °æ±âµµ ¿ëÀνà ±âÈﱸ Èï´ö1·Î 13, Ÿ¿öµ¿ 22Ãþ 12È£
ÀüȹøÈ£ : 031-340-3581
ȸ»ç ¼Ò°³
- ÀϺ» Hitachi High-Tech Science»ç Áý¼Ó À̿ºö ÀåÄ¡(FIB : Focused Ion Beam System)ÀÇ Çѱ¹ ´ë¸®Á¡À¸·Î ¿µ¾÷ ¹× ¼³Ä¡ À¯Áöº¸¼ö, °ü·Ã±â¼ú Áö¿ø ¾÷¹«¸¦ ¼öÇà
- ÃÖ±Ù ³ª³ëÅ×Å©³î·ÎÁöÀÇ ±Þ¼ÓÇÑ ¹ßÀü°ú ÇÔ²² ºÎ°¢µÇ°í ÀÖ´Â À̿ºö Àåü¸¦ ÃÖ°íÀÇ »ç¾çÀ¸·Î °ø±Þ
Á¦Ç° ¼Ò°³
- Àú°¡¼Ó Ion Beam ¹× Ar Ion Beam¿¡ ÀÇÇÑ °íÇ°ÁúÀÇ TEM ½Ã·á Á¦ÀÛ
- TEM ½Ã·á Á¦ÀÛÁß¿¡ °íºÐÇØ´É SEM¿¡ ÀÇÇÑ ¸®¾óŸÀÓ ¸ð´ÏÅ͸µ ±â´É
- ´ëÀü·ù Ion Beam¿¡ ÀÇÇÑ High Throughput ´Ü¸é°¡°ø, TEM ½Ã·á Á¦ÀÛ
- °í¼º´É ¿¬¼Ó A-TEM ±â´É(Automatic TEM Sampling)
- DB, TB ¶Ç´Â ½Ã·áÃë±Þȯ°æ(¹Ý¼Û°è)¿¡ ´ëÀÀÇÑ 4±âÁ¾ Line up
|